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Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis

R.G. Wilson, F.A. Stevie, C.W. Magee. -- Wiley, 1989. <TY00003150>
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Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 有瀬館 新館B2 G-L 433.3/Wil/S 902885873 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 有瀬館
配置場所 新館B2 G-L
請求記号 433.3/Wil/S
資料ID 902885873
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis / R.G. Wilson, F.A. Stevie, C.W. Magee
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1989
形態事項 1 v. (various pagings) : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0471519456
注記 "A Wiley-Interscience publication"
注記 Includes bibliographical references
学情ID BA10465729
本文言語コード 英語
著者標目リンク Wilson, Robert G. <AU00003326>
著者標目リンク Stevie, F. A. <AU00003325>
著者標目リンク Magee, C. W. <AU00003324>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC20:543/.0873
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry
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