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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <TW60087213>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <TW60087213>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 有瀬館 B2第2書庫（本館5階移 549/IWA/4 901199834 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 有瀬館
配置場所 B2第2書庫（本館5階移
請求記号 549/IWA/4
資料ID 901199834
禁帯出区分 4
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x,313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <TW60087236> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU50022144>
著者標目リンク 浅田, 邦博(1952-)||アサダ, クニヒロ <AU60043174>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU60043175>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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